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공지사항

제목

[파크시스템스]원자현미경 응용 모드 및 활용 사례’ 를 주제로 2차 웨비나를 진행

작성자
관리자
작성일
2021.08.12
첨부파일0
조회수
876
내용
*|MC:SUBJECT|*
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웨비나 등록하기

Advanced imaging modes in AFM
for a variety of applications

LIVE WEBINAR!

2021년 8월 12일(목) 오후 4시 (16:00-17:00)

*언어: 한국어 | This webinar will be presented in Korean.

표면 구조와 표면을 구성하는 재료의 특성을 파악하는 것은 나노 스케일에서 재료의 거동을 이해하는 데 필수적입니다. 나노 스케일에서 표면 측정은 주사전자현미경(SEM), 투과전자현미경(TEM), 주사탐침현미경(SPM)과 같은 다양한 계측장비에 의해 가능합니다. AFM(Atomic Force Microscope)은 표면 형태와 함께 시료의 다양한 특성을 측정할 수 있는 SPM 제품군의 주요 장비입니다.

AFM의 기본 이미징 모드에는 Non-Contact, Contact, Tapping mode 가 있으며, 이러한 기본 모드에서 시료의 전기적, 기계적, 자기적 특성과 같은 서로 다른 특성을 측정하기 위해 다양한 고급 모드가 개발되었습니다.
  • Electrical Modes: EFM, KPFM, Conductive-AFM, PFM
  • Nanomechanical Modes: Nanoindentation, FD spectroscopy, PinPoint mode
  • Special Modes: MFM, SThM, SICM, SECCM

이번 웨비나에서는 AFM 응용 모드의 원리와 다양한 측정 예들을 소개할 예정입니다.
AFM의 고급 이미징 모드에 대한 지식을 얻는 데 유용한 자료가 될 것으로 기대합니다.
지금 바로 등록해주세요!!
Presented by:
정구은 차장 (Gordon Jung) | Application Scientist
파크시스템스(주), Application Technology Center


정구은 차장은 고려대학교에서 STM을 전공하였으며, 2007년 12월부터 파크시스템스 본사 Application Technology Center에 Application Scientist 로 입사하여 AFM 측정, Bio 장비 개발 및 SICM 모드 개발, PPL 모드 개발 등 다양한 활동에 참여하고 있습니다.
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파크시스템스는 순수 국내 원천 기술로 첨단 나노계측장비인 원자현미경 및 계측 기술의 혁신을 선도하고 있는 글로벌 기업입니다. 
파크시스템스의 원자현미경은 국내외 유수의 대학교와 연구소는 물론, 최고의 글로벌 반도체 기업들로부터 최적의 솔루션으로 높이 평가받으며, 원자현미경 분야에서 독보적인 기술력과 브랜드 인지도를 구축하고 있습니다. 본사는 수원 광교에 소재하고 있으며, 보다 자세한 정보를 위해 파크시스템스 웹사이트에 방문해주세요. parksystems.co.kr
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